{"id":23,"date":"2015-05-28T11:26:46","date_gmt":"2015-05-28T11:26:46","guid":{"rendered":"http:\/\/www.icmm.csic.es\/forcetool\/?page_id=23"},"modified":"2023-03-10T10:33:37","modified_gmt":"2023-03-10T10:33:37","slug":"patents","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/wp.icmm.csic.es\/forcetool\/patents\/","title":{"rendered":"Patents"},"content":{"rendered":"

2021<\/strong><\/span><\/p>\n

M\u00e9todo y sistema bimodal para cuantificar interacciones y propiedades de largo alcance en microscop\u00eda de fuerzas
\nRicardo Garcia, Carlos A. Amo y Victor G. Gisbert, ES2781793 B2; 5 agosto de 2021<\/p>\n

2018<\/strong><\/span><\/p>\n

M\u00e9todo dinamico de microscopia de fuerzas y microscopio para adquirir de forma simultanea im\u00e1genes de topografia y mapas de fuerza.
\nR. Garcia y C.A. Amo, P201830497; 23 mayo de 2018.<\/p>\n

2016<\/strong><\/span><\/p>\n

M\u00e9todo multimodal para cuantificar la masa y distribuci\u00f3n de masas de un objeto extendido en tiempo real: Applicaci\u00f3n a c\u00e9lulas vivas.
\nC. R. Guerrero Rodriguez, Pablo David Garc\u00eda L\u00f3pez, Ricardo Garc\u00eda Garc\u00eda. P201630370; 30 marzo de 2016<\/p>\n

2013<\/strong><\/span><\/p>\n

Metodo bimodal para cuantificar propiedades no topogr\u00e1ficas en microscopia de fuerzas.
\nElena T. Herruzo y Ricardo Garcia, Oficina Espa\u00f1ola de Patentes, P201330281, 28 de Febrero de 2013<\/p>\n

2009<\/strong><\/span>
\n\u2022Ultrafast and ultrasensitive novel photodetectors.
\nJ.Y. Kim, R.V. Mart\u00ednez, F.Stellaci, J. Mart\u00ednez, R. Garc\u00eda, Patent. No. US 12\/715,783. Patent shared between CSIC and MIT researchers.<\/p>\n

\u2022M\u00e9todo de fabricaci\u00f3n de distribuciones de nanohilos y nanotransistores de silicio.
\nR. Garcia, J. Martinez, P200931257.<\/p>\n

2008<\/strong><\/span>
\nM\u00e9todo para activar di\u00f3xido de carbono, metano y otros gases de efecto invernadero mediante la aplicaci\u00f3n de los campos el\u00e9ctricos generados en un microscopio de fuerzas.
\nR. Garcia, F. Zerbetto. P200800312.<\/p>\n

2006<\/strong><\/span><\/p>\n

M\u00e9todo de utilizaci\u00f3n de un microscopio de fuerzas at\u00f3micas y microscopio II.
\nRicardo Garc\u00eda, J.R. Lozano, S. Patil y N.F. Martinez, PCT\/ES2006\/070096 (Patent No: US 7,958,563 B2). Licensed to Asylum Research (USA).<\/p>\n

2005<\/strong><\/span>
\nM\u00e9todo de utilizaci\u00f3n de un microscopio de fuerzas at\u00f3micas y microscopio.
\nRicardo Garc\u00eda y Tom\u00e1s R. Rodr\u00edguez, 24 de Junio de 2005, P200501555. PCT\/ES2006\/070016 (Patent No: US pat. 7,921,466 B2). Licensed to Asylum Research (USA)<\/p>\n

2004<\/strong><\/span>
\nControl a escala nanom\u00e9trica de la distribuci\u00f3n espacial, forma y tama\u00f1o de las pel\u00edculas delgadas de mol\u00e9culas org\u00e1nicas conjugadas mediante la fabricaci\u00f3n de nano-estructuras de \u00f3xido de silicio.
\nRicardo Garc\u00eda and Fabio Biscarini, PCT\/ES2004\/070013. Licenciada a Scriba Nanotec (Italia).<\/p>\n

2003<\/strong><\/span>
\nProcedimiento su larga area per la ossidazione locale del silicio e\/o altri materiali mediante stampaggio su scale micro e nanometriche.
\nM. Cavallini, P, Mei, F, Biscarini and R. Garc\u00eda, BO2003A000614 (Italia). Licenciada a Scriba Nanotec (Italia).<\/p>\n

2002<\/strong><\/span>
\nModo de control de la respuesta din\u00e1mica de un microscopio de fuerzas basado en el seguimiento continuo de la se\u00f1al de oscilaci\u00f3n.
\nRicardo Garc\u00eda y Tom\u00e1s R. Rodr\u00edguez, 3 Mayo 2002; No:200201022PCT\/ES03\/00191.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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