{"id":278,"date":"2011-05-05T17:30:57","date_gmt":"2011-05-05T15:30:57","guid":{"rendered":"http:\/\/www.icmm.csic.es\/Nanocarma\/?page_id=278"},"modified":"2011-05-05T17:30:57","modified_gmt":"2011-05-05T15:30:57","slug":"curso-tem-y-raman","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/wp.icmm.csic.es\/nanocarma\/?page_id=278","title":{"rendered":"Course on Microscopy in Materiales Science: TEM and Raman"},"content":{"rendered":"

\"CSIC Curso de especializaci\u00f3n del CSIC<\/p>\n

T\u00e9cnicas de Microscop\u00eda en Ciencia de Materiales: Microscop\u00eda Electr\u00f3nica de Transmisi\u00f3n (TEM) y Micro-Raman<\/h3>\n

Resumen del contenido y objetivos del curso<\/h3>\n

En este curso se da una visi\u00f3n amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las\u00a0 microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratar\u00e1n la Microscop\u00eda Electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n (TEM) junto con la Micro-espectroscop\u00eda Raman. La microscop\u00eda electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n, especialmente de alta resoluci\u00f3n (HRTEM) proporciona informaci\u00f3n sobre la estructura de los materiales con una resoluci\u00f3n espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan im\u00e1genes en el espacio real junto con diagramas de difracci\u00f3n de electrones, que dan informaci\u00f3n sobre morfolog\u00eda, tama\u00f1o de part\u00edcula, orientaci\u00f3n, grado de cristalinidad y perfiles de distribuci\u00f3n de tama\u00f1o. Adem\u00e1s, se puede obtener informaci\u00f3n adicional mediante t\u00e9cnicas asociadas como la espectroscop\u00eda de dispersi\u00f3n de energ\u00eda de rayos X (X-EDS) y la espectroscop\u00eda de p\u00e9rdida de energ\u00eda de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan informaci\u00f3n qu\u00edmica y electr\u00f3nica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una t\u00e9cnica anal\u00edtica no destructiva que proporciona informaci\u00f3n sobre el tipo de enlace qu\u00edmico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientaci\u00f3n, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparici\u00f3n de nuevas fases cristalogr\u00e1ficas, etc. La resoluci\u00f3n espacial es inferior a un micr\u00f3metro.<\/p>\n

Programa<\/h3>\n

Temario
\nIntroducci\u00f3n a la microscop\u00eda en Ciencia y Tecnolog\u00eda de Materiales:
\nI) Microscop\u00eda electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n (TEM)
\n-Microscop\u00eda \u00f3ptica y electr\u00f3nica. Electrones versus luz.
\n-Tipos de microscopios electr\u00f3nicos.
\n-Obtenci\u00f3n de un haz de electrones. Dispersi\u00f3n el\u00e1stica. Dispersi\u00f3n inel\u00e1stica.
\n-Difracci\u00f3n de electrones.Interpretaci\u00f3n.
\n-Obtenci\u00f3n de im\u00e1genes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resoluci\u00f3n. -Interpretaci\u00f3n de im\u00e1genes. M\u00e9todos
\npara la interpretaci\u00f3n de im\u00e1genes.
\n-T\u00e9cnicas de difracci\u00f3n: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
\n-T\u00e9cnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
\n-Preparaci\u00f3n de muestras: Materiales homog\u00e9neos. Materiales inhomog\u00e9neos: secciones planas y secciones
\ntransversales.
\n-Ejemplos pr\u00e1cticos en diferentes materiales.
\n-Bibliograf\u00eda<\/p>\n

II) Microscop\u00eda Raman
\n-Introducci\u00f3n: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
\n-Espectroscop\u00eda Raman: Instrumentaci\u00f3n
\n-Ejemplos pr\u00e1cticos en diferentes materiales. Interpretaci\u00f3n
\n-Microscop\u00eda Raman: Resoluci\u00f3n espacial. T\u00e9cnicas de campo cercano
\n-Aplicaciones a distintos campos
\n-Bibliograf\u00eda<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Directora<\/strong>:<\/td>\nPilar Herrero Fern\u00e1ndez<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Subdirector<\/strong>:<\/td>\n\u00c1ngel R. Landa C\u00e1novas<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Profesores<\/strong>:<\/td>\nPilar Herrero Fern\u00e1ndez<\/a>
\n\u00c1ngel R. Landa C\u00e1novas<\/a>
\nFernando Agull\u00f3-Rueda<\/a>
\nJorge Hern\u00e1ndez-Velasco<\/a>
\nJos\u00e9 P\u00e9rez Rigueiro<\/a> (UPM)
\nJavier Garc\u00eda Garc\u00eda<\/a> (UCM) (invitado)<\/td>\n<\/tr>\n
Requisitos<\/strong>:<\/td>\nLicenciatura o ingenier\u00eda<\/td>\n<\/tr>\n
Idioma del curso<\/strong>:<\/td>\nEspa\u00f1ol<\/td>\n<\/tr>\n
Importe<\/strong>:<\/td>\n200 \u20ac<\/td>\n<\/tr>\n
Formulario de inscripci\u00f3n<\/strong>:<\/td>\nMS Word<\/a>
\nOpen\/Libre Office<\/a>
\nPDF<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Instrucciones de pago<\/strong>:<\/td>\nLos alumnos deben realizar una transferencia de 200 \u20ac al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
\nN\u00famero de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727
\nEntidad: Banco Santander
\nConcepto: Curso Microscop\u00eda TEM y Raman.
\nOrdenante: Nombre del alumno<\/td>\n<\/tr>\n
Duraci\u00f3n<\/strong>:<\/td>\n20 horas.<\/td>\n<\/tr>\n
Horario<\/strong>:<\/td>\n15:00–19:00 horas.<\/td>\n<\/tr>\n
Fechas<\/strong>:<\/td>\n2–6 de junio de 2014<\/td>\n<\/tr>\n
Lugar<\/strong>:<\/td>\nSala de Seminarios, \t\t\t\t\t\tInstituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

\"CSIC Curso de especializaci\u00f3n del CSIC<\/p>\n

T\u00e9cnicas de Microscop\u00eda en Ciencia de Materiales: Microscop\u00eda Electr\u00f3nica de Transmisi\u00f3n (TEM) y Micro-Raman<\/h3>\n

Resumen del contenido y objetivos del curso<\/h3>\n

En este curso se da una visi\u00f3n amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratar\u00e1n la Microscop\u00eda Electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n (TEM) junto con la Micro-espectroscop\u00eda Raman. La microscop\u00eda electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n, especialmente de alta resoluci\u00f3n (HRTEM) proporciona informaci\u00f3n sobre la estructura de los materiales con una resoluci\u00f3n espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan im\u00e1genes en el espacio real junto con diagramas de difracci\u00f3n de electrones, que dan informaci\u00f3n sobre morfolog\u00eda, tama\u00f1o de part\u00edcula, orientaci\u00f3n, grado de cristalinidad y perfiles de distribuci\u00f3n de tama\u00f1o. Adem\u00e1s, se puede obtener informaci\u00f3n adicional mediante t\u00e9cnicas asociadas como la espectroscop\u00eda de dispersi\u00f3n de energ\u00eda de rayos X (X-EDS) y la espectroscop\u00eda de p\u00e9rdida de energ\u00eda de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan informaci\u00f3n qu\u00edmica y electr\u00f3nica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una t\u00e9cnica anal\u00edtica no destructiva que proporciona informaci\u00f3n sobre el tipo de enlace qu\u00edmico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientaci\u00f3n, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparici\u00f3n de nuevas fases cristalogr\u00e1ficas, etc. La resoluci\u00f3n espacial es inferior a un micr\u00f3metro.<\/p>\n

Programa<\/h3>\n

Temario
\nIntroducci\u00f3n a la microscop\u00eda en Ciencia y Tecnolog\u00eda de Materiales:
\nI) Microscop\u00eda electr\u00f3nica de transmisi\u00f3n (TEM)
\n-Microscop\u00eda \u00f3ptica y electr\u00f3nica. Electrones versus luz.
\n-Tipos de microscopios electr\u00f3nicos.
\n-Obtenci\u00f3n de un haz de electrones. Dispersi\u00f3n el\u00e1stica. Dispersi\u00f3n inel\u00e1stica.
\n-Difracci\u00f3n de electrones.Interpretaci\u00f3n.
\n-Obtenci\u00f3n de im\u00e1genes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resoluci\u00f3n. -Interpretaci\u00f3n de im\u00e1genes. M\u00e9todos
\npara la interpretaci\u00f3n de im\u00e1genes.
\n-T\u00e9cnicas de difracci\u00f3n: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
\n-T\u00e9cnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
\n-Preparaci\u00f3n de muestras: Materiales homog\u00e9neos. Materiales inhomog\u00e9neos: secciones planas y secciones
\ntransversales.
\n-Ejemplos pr\u00e1cticos en diferentes materiales.
\n-Bibliograf\u00eda<\/p>\n

II) Microscop\u00eda Raman
\n-Introducci\u00f3n: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
\n-Espectroscop\u00eda Raman: Instrumentaci\u00f3n
\n-Ejemplos pr\u00e1cticos en diferentes materiales. Interpretaci\u00f3n
\n-Microscop\u00eda Raman: Resoluci\u00f3n espacial. T\u00e9cnicas de campo cercano
\n-Aplicaciones a distintos campos
\n-Bibliograf\u00eda<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Directora<\/strong>:<\/td>\nPilar Herrero Fern\u00e1ndez<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Subdirector<\/strong>:<\/td>\n\u00c1ngel R. Landa C\u00e1novas<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Profesores<\/strong>:<\/td>\nPilar Herrero Fern\u00e1ndez<\/a>
\n\u00c1ngel R. Landa C\u00e1novas<\/a>
\nFernando Agull\u00f3-Rueda<\/a>
\nJorge Hern\u00e1ndez-Velasco<\/a>
\nJos\u00e9 P\u00e9rez Rigueiro<\/a> (UPM)
\nJavier Garc\u00eda Garc\u00eda<\/a> (UCM) (invitado)<\/td>\n<\/tr>\n
Requisitos<\/strong>:<\/td>\nLicenciatura o ingenier\u00eda<\/td>\n<\/tr>\n
Idioma del curso<\/strong>:<\/td>\nEspa\u00f1ol<\/td>\n<\/tr>\n
Importe<\/strong>:<\/td>\n200 \u20ac<\/td>\n<\/tr>\n
Formulario de inscripci\u00f3n<\/strong>:<\/td>\nMS Word<\/a>
\nOpen\/Libre Office<\/a>
\nPDF<\/a><\/td>\n<\/tr>\n
Instrucciones de pago<\/strong>:<\/td>\nLos alumnos deben realizar una transferencia de 200 \u20ac al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
\nN\u00famero de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727
\nEntidad: Banco Santander
\nConcepto: Curso Microscop\u00eda TEM y Raman.
\nOrdenante: Nombre del alumno<\/td>\n<\/tr>\n
Duraci\u00f3n<\/strong>:<\/td>\n20 horas.<\/td>\n<\/tr>\n
Horario<\/strong>:<\/td>\n15:00–19:00 horas.<\/td>\n<\/tr>\n
Fechas<\/strong>:<\/td>\n2–6 de junio de 2014<\/td>\n<\/tr>\n
Lugar<\/strong>:<\/td>\nSala de Seminarios, \t\t\t\t\t\tInstituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

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