–     System for scanning probe microscopy applications and method for obtaining said system.

Inventors: Yves Huttel, Lidia Martínez Orellana.

Patent  EP18382665.0. 14/09/2018.

Holder entity : CSIC .

–     Device and process for the stable manufacture of nanoclusters.

Inventors: Inventors: Yves Huttel, Lidia Martínez Orellana, Iván Fernández Martínez.

Patent EP18382577.7.

Holder entities: CSIC, Nano4Energy.

Priority date: 31/07/2018.

Licensed to Nanostine S.L.

–     Dispositivo y método para limpiar superficies con haz de gases en vacío y ultra alto vacío.

Inventors: Elisa Román, Lidia Martínez Orellana, Yves Huttel.

Patent PCT/ES2013/070486.

Priority date : 08/07/2013.

Holder entity : CSIC.

–       Modificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados.

Inventors: Elisa Román, Lidia Martínez, Medrcedes Díaz, Yves Huttel.

Patent PCT/ES2011/070319.

Priority date : 14/03/2010.

Holder entity: CSIC. Licensed to Next-Tip S.L.

–       Dispositivo y procedimiento de fabricación de nanopartículas.

Inventors: Elisa Román, Lidia Martínez, Medrcedes Díaz, Yves Huttel.

Patent PCT/ES2011/070032.

Priority date : 19/01/2010.

Holder entity: CSIC. Licenciada a Oxford Applied Research Ltd.

–       Procedimiento y dispositivo para determinar el contenido de gases y volátiles en materiales sólidos o recubrimientos de superficie.

Inventors: E. L Román G, J. L de Segovia T, R. Nevshupa, I. Menshikov and P. Konovalov.

Patent ES 2 320 513.

Holder entity : CSIC.

Priority date : 23/02/2007. Licensed: 15/02/2010.