Curso de especialización del CSIC
Técnicas de Microscopía en Ciencia de Materiales: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Micro-Raman
Resumen del contenido y objetivos del curso
En este curso se da una visión amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratarán la Microscopía Electrónica de transmisión (TEM) junto con la Micro-espectroscopía Raman. La microscopía electrónica de transmisión, especialmente de alta resolución (HRTEM) proporciona información sobre la estructura de los materiales con una resolución espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan imágenes en el espacio real junto con diagramas de difracción de electrones, que dan información sobre morfología, tamaño de partícula, orientación, grado de cristalinidad y perfiles de distribución de tamaño. Además, se puede obtener información adicional mediante técnicas asociadas como la espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (X-EDS) y la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan información química y electrónica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una técnica analítica no destructiva que proporciona información sobre el tipo de enlace químico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientación, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparición de nuevas fases cristalográficas, etc. La resolución espacial es inferior a un micrómetro.
Programa
Temario
Introducción a la microscopía en Ciencia y Tecnología de Materiales:
I) Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
-Microscopía óptica y electrónica. Electrones versus luz.
-Tipos de microscopios electrónicos.
-Obtención de un haz de electrones. Dispersión elástica. Dispersión inelástica.
-Difracción de electrones.Interpretación.
-Obtención de imágenes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resolución. -Interpretación de imágenes. Métodos
para la interpretación de imágenes.
-Técnicas de difracción: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
-Técnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
-Preparación de muestras: Materiales homogéneos. Materiales inhomogéneos: secciones planas y secciones
transversales.
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales.
-Bibliografía
II) Microscopía Raman
-Introducción: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
-Espectroscopía Raman: Instrumentación
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Interpretación
-Microscopía Raman: Resolución espacial. Técnicas de campo cercano
-Aplicaciones a distintos campos
-Bibliografía
| Directora: | Pilar Herrero Fernández |
| Subdirector: | Ángel R. Landa Cánovas |
| Profesores: | Pilar Herrero Fernández Ángel R. Landa Cánovas Fernando Agulló-Rueda Jorge Hernández-Velasco José Pérez Rigueiro (UPM) Javier García García (UCM) (invitado) |
| Requisitos: | Licenciatura o ingeniería |
| Idioma del curso: | Español |
| Importe: | 200 € |
| Formulario de inscripción: | MS Word Open/Libre Office |
| Instrucciones de pago: | Los alumnos deben realizar una transferencia de 200 € al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC). Número de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727 Entidad: Banco Santander Concepto: Curso Microscopía TEM y Raman. Ordenante: Nombre del alumno |
| Duración: | 20 horas. |
| Horario: | 15:00–19:00 horas. |
| Fechas: | 2–6 de junio de 2014 |
| Lugar: | Sala de Seminarios, Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC). |
Curso de especialización del CSIC
Técnicas de Microscopía en Ciencia de Materiales: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Micro-Raman
Resumen del contenido y objetivos del curso
En este curso se da una visión amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratarán la Microscopía Electrónica de transmisión (TEM) junto con la Micro-espectroscopía Raman. La microscopía electrónica de transmisión, especialmente de alta resolución (HRTEM) proporciona información sobre la estructura de los materiales con una resolución espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan imágenes en el espacio real junto con diagramas de difracción de electrones, que dan información sobre morfología, tamaño de partícula, orientación, grado de cristalinidad y perfiles de distribución de tamaño. Además, se puede obtener información adicional mediante técnicas asociadas como la espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (X-EDS) y la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan información química y electrónica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una técnica analítica no destructiva que proporciona información sobre el tipo de enlace químico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientación, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparición de nuevas fases cristalográficas, etc. La resolución espacial es inferior a un micrómetro.
Programa
Temario
Introducción a la microscopía en Ciencia y Tecnología de Materiales:
I) Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
-Microscopía óptica y electrónica. Electrones versus luz.
-Tipos de microscopios electrónicos.
-Obtención de un haz de electrones. Dispersión elástica. Dispersión inelástica.
-Difracción de electrones.Interpretación.
-Obtención de imágenes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resolución. -Interpretación de imágenes. Métodos
para la interpretación de imágenes.
-Técnicas de difracción: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
-Técnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
-Preparación de muestras: Materiales homogéneos. Materiales inhomogéneos: secciones planas y secciones
transversales.
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales.
-Bibliografía
II) Microscopía Raman
-Introducción: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
-Espectroscopía Raman: Instrumentación
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Interpretación
-Microscopía Raman: Resolución espacial. Técnicas de campo cercano
-Aplicaciones a distintos campos
-Bibliografía
| Directora: | Pilar Herrero Fernández |
| Subdirector: | Ángel R. Landa Cánovas |
| Profesores: | Pilar Herrero Fernández Ángel R. Landa Cánovas Fernando Agulló-Rueda Jorge Hernández-Velasco José Pérez Rigueiro (UPM) Javier García García (UCM) (invitado) |
| Requisitos: | Licenciatura o ingeniería |
| Idioma del curso: | Español |
| Importe: | 200 € |
| Formulario de inscripción: | MS Word Open/Libre Office |
| Instrucciones de pago: | Los alumnos deben realizar una transferencia de 200 € al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC). Número de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727 Entidad: Banco Santander Concepto: Curso Microscopía TEM y Raman. Ordenante: Nombre del alumno |
| Duración: | 20 horas. |
| Horario: | 15:00–19:00 horas. |
| Fechas: | 2–6 de junio de 2014 |
| Lugar: | Sala de Seminarios, Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC). |